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赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。
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赛默飞(原FEI)Helios 5 Laser PFIB FIB双束电镜
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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赛默飞(原FEI)Quattro
、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求,它同时支持相对的双能谱(EDS)探测器、共面能谱(EDS)/电子背散射衍射(EBSD)和平行束波谱
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
:通过密集测试确保系统性能和可靠性通过碎片识别功能实现碎片捕集和Swipe滑动以最大化对样品的有效保护可使用 HiVac 和 LoVac 两种模式采集荷电样品,更可靠;LoVac 探头(VSDBS
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
电气缺陷的定位提供了一套重要解决方案,这些缺陷包括电源或线路短路、ESD 缺陷、电流泄漏、氧化伤害、缺陷晶体管和二极管、器件闩锁以及电阻性开路。ELITE 是第一款可为二维和三维器件提供动态无损实时
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学应用观测敏感的生物样本时,过高的成像
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
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